片状多层瓷介电容器简称片状电容，是新型、片式电子元器件，广泛用于消费、通讯、信息类电子整机设备中，主要起到滤波、隔直、耦合、振荡等作用。跟着电子信息产业不断的发展，电子设备向薄、小、轻、便携式发展，片状电容也逐渐向小型化、大容量化、高频率方向发展。片状电容是增长速度最快的无源电子元器件之一，具有广阔的发展前景和目标。
片状电容由三大部分组成：1.陶瓷介质体；2.内部电极；3.外部电极。
片状电容基本电功能有1.电容量；2.损耗值；3绝缘电阻；4.耐电压等。常见的质量疑问首先是陶瓷本体疑问-开裂或微裂，这是最常见的疑问之一。开裂现象较显着，而微裂一般出在内部，不容易观察到，涉及到片状电容的材质、加工工艺和片状电容运用过程中的机械、热应力等作用要素影响。其次是片状电容电功能疑问。片状电容运用一段时间后出现绝缘电阻降低、漏电。
以上两个疑问往往同时产生，互为因果关系。电容器的绝缘电阻是一项重要的参数，衡量着工作中片状电容漏电流大小。漏电流大，片状电容贮存不了电量，片状电容两端电压降低。往往因为漏电流大导致了片状电容失效，引发了对片状电容可靠性疑问的争论。可靠性疑问总结片状电容失效及可靠性疑问，可用一条曲线概括表达，即片状电容失效模式，其失效曲线。该曲线将片状电容失效分为三个阶段：第一阶段是片状电容生产、运用过程的失效，这一阶段片状电容失效与制造和加工工艺有关；第二阶段是片状电容稳定地被用于电子线路中，该阶段片状电容失效概率正逐渐减小，并趋于稳定；第三阶段是片状电容长时间工作后出现失效现象，这一阶段片状电容失效往往因为老化、磨损和疲劳等原因使元件功能恶化所致，应替换片状电容以保证电子整机设备的正常工作。
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