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贴片电子元器件的可靠性
发布时间:2013-11-01        浏览次数:181        返回列表
  电子元器件的可靠性评价是指对电子元器材产品、半成品或模拟样片,通过各种可靠性评价办法,如可靠性试验、加速寿数试验和快速评价技能等,并运用数理统计工具和有关模拟仿真软件来评定其寿数、失效率或可靠性质量等级。
  随着电子元器材可靠性的要求不断进步,电子元器材向超微型化、高集成化、多功能化方向更加迅猛的发展,对器材的可靠性评价技能日益为人们所关注。近年来,在这方面也相继取得了很多好的进展。
  有的出产单位,开端选用加速寿数试验办法,能够缩短一些评价时刻。后来,又选用晶片级可靠性 (WLR) 评估技能,在出产过程中或封装前用测验结构样片进行可靠性评估,加强了出产过程的操控,使影响器材可靠性的各种因素在出产过程中得到了及时的排除和改进。